Phát hiện khuyết điểm trên bề mặt trái bưởi sử dụng không gian màu CIE L*a*b* và thuật toán phân đoạn ảnh toàn cục
59
lượt xem 2
download
lượt xem 2
download
Download
Vui lòng tải xuống để xem tài liệu đầy đủ
Bài viết giới thiệu một phương pháp hiệu quả để phát hiện khuyết tật trên bề mặt trái Bưởi, nhằm loại bỏ những trải không đạt chất lượng một cách tự động bằng máy tính trước khi đóng gói xuất khẩu, Trải Bưởi sau khi lấy mẫu được chuyển đổi sang không gian ảnh màu CIE L*a*5* và tách thành các thành phần kênh màu riêng biệt, kênh màu a* được chọn để phân tích và xử lý.
Chủ đề:
Bình luận(0) Đăng nhập để gửi bình luận!
CÓ THỂ BẠN MUỐN DOWNLOAD